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Subject Area物理化学
一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置
王卫国; 李海洋; 董璨; 杜永斋
Application NumberCN200810229879.1
Patent NumberCN200810229879.1
Application Date2008-12-17
2010-06-23
Patent Agent马驰 ; 周秀梅
Rights Holder中国科学院大连化学物理研究所
Subtype发明
Keyword物理化学
Certificate Number带填写
PCT Attributes
Country中国
Department大连化物所
Contribution Rank1
一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置; 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置
Date Available2010-06-23 ; 2011-07-11
description.patentprioritydata待填写
description.pctapplicationdata待填写
description.pctpublicationdata待填写
Status实审
Funding Organization大连化物所
Abstract本发明涉及一种测量大气纳米粒子粒谱的方法,采用离子迁移管,大气以微孔进样,在离子迁移管的漂移区内形成发散性小的离子束,同时在漂移区内施以负压,其压力为0.1-0.5大气压,实现实时测量大气纳米粒子粒谱的目的。本发明采用离子迁移谱,通过设计微进样的分流器,缩短迁移管长度,提高迁移场强,减小带电离子的扩散损失,从而实现对大气纳米粒子粒谱的实时测量。; 带填写
Language中文
Document Type专利
Identifierhttp://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/107177
Collection中国科学院大连化学物理研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
王卫国,李海洋,董璨,等. 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置, 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置, 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置, 一种测量大气纳米粒子粒谱的方法及专用装置. CN200810229879.1[P]. 2010-06-23.
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