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学科主题: 物理化学
专利名称: 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片;  一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片
发明人: 秦建华 ;  张 敏 ;  林炳承 ;  李艳峰
申请受理号: CN200910012405.6
专利授权号: CN200910012405.6
申请日期: 2009-07-08
授权日期: 2009-11-25
代理机构: 张晨
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
关键词: 物理化学
专利证书号: 带填写
是否PCT专利: 
授予国别: 中国
部门归属: 大连化物所
产权排名: 1
专利名称: 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片;  一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片
公开日期: 2009-11-25 ;  2011-07-11
优先权数据: 待填写
PCT申请数据: 待填写
PCT公布数据: 待填写
状态: 实审
资助者: 大连化物所
摘要: 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片,该芯片由2~99个相同的细胞培养结构单元构成,这些结构单元之间通过一个公共细胞进样池相连接;每个结构单元含有柱形结构、挡板结构和废液池。本发明创造性地将细胞培养、缺损区域形成、损伤修复过程启动等功能单元集成于一块芯片上,采用柱形结构对细胞的阻挡作用以形成形状、大小均相同的细胞缺损区域。与传统的划痕法相比,简化了人为操作,能提供完全相同的初始缺损区域,减少了细胞用量,通量高,且损伤修复过程易于定位拍照。
英文摘要: 带填写
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/107489
Appears in Collections:中国科学院大连化学物理研究所_专利

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秦建华,张 敏,林炳承,等. 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片, 一种检测细胞损伤修复能力的方法及其专用芯片. CN200910012405.6. 2009.
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