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学科主题物理化学
一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪
林炳承; 马 波; 倪春起; 王 昕; 秦建华
申请受理号CN200710012937.0
专利授权号CN200710012937.0
申请日期2007-09-24
2009-04-01
代理机构张晨
专利权人中国科学院大连化学物理研究所 ; 北京彩陆科学仪器有限公司
专利类别发明
关键词物理化学
专利证书号带填写
是否PCT专利
授予国别中国
部门归属大连化物所
产权排名1
一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪
公开日期2009-04-01 ; 2011-07-11
优先权数据待填写
PCT申请数据待填写
PCT公布数据待填写
状态视撤
资助者大连化物所
英文摘要本发明提供了一种实现快速自动光学对准和阵列多通道检测的全集成紫外微流控芯片分析仪,该紫外微流控芯片分析仪由硬件和控制软件模块构成。本发明提出了一种全新的自动光学对准方法,直接利用光学原理,使用软件自动控制芯片检测通道与光路的快速自动对准;本发明首次实现了紫外微流控芯片的阵列多通道检测;用户操作简单,同时提供了强大的功能可扩展性。; 带填写
语种中文
文献类型专利
条目标识符http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/107783
专题中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
林炳承,马 波,倪春起,等. 一种全集成紫外微流控芯片分析仪, 一种全集成紫外微流控芯片分析仪, 一种全集成紫外微流控芯片分析仪, 一种全集成紫外微流控芯片分析仪. CN200710012937.0[P]. 2009-04-01.
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