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Subject Area物理化学
一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法
王辉; 戴忠鹏; 王利; 白吉玲; 林炳承
Application NumberCN200310119466.5
Patent NumberCN200310119466.5
Application Date2003-12-25
2005-06-29
Patent Agent张晨
Rights Holder中国科学院大连化学物理研究所
Subtype发明
Keyword物理化学
Certificate Number带填写
PCT Attributes
Country中国
Department大连化物所
Contribution Rank1
一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法
Date Available2005-06-29 ; 2011-07-11
description.patentprioritydata待填写
description.pctapplicationdata待填写
description.pctpublicationdata待填写
Status视撤
Funding Organization大连化物所
Abstract本发明提供了一种玻璃微流控芯片的质量检测方法,其特征在于:包括对玻璃微流控芯片通道的横截面轮廓测定、表面光洁度测定、表面电荷分布测定和化学性质确定。本发明提供了一种玻璃微流控芯片的质量检测方法的优点在于:首次全面、客观、准确的对玻璃微流控芯片的产品质量进行了监控,从而避免了以往在玻璃微流控芯片的生产使用过程中,由于产品评价标准的缺乏所造成的混乱局面;对出自不同厂家的玻璃微流控芯片进行产品质量检测的理想方法并,可成为行业标准。; 带填写
Language中文
Document Type专利
Identifierhttp://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/109233
Collection中国科学院大连化学物理研究所
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GB/T 7714
王辉,戴忠鹏,王利,等. 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法. CN200310119466.5[P]. 2005-06-29.
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