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学科主题物理化学
一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法
王辉; 戴忠鹏; 王利; 白吉玲; 林炳承
申请受理号CN200310119466.5
专利授权号CN200310119466.5
申请日期2003-12-25
2005-06-29
代理机构张晨
专利权人中国科学院大连化学物理研究所
专利类别发明
关键词物理化学
专利证书号带填写
是否PCT专利
授予国别中国
部门归属大连化物所
产权排名1
一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法; 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法
公开日期2005-06-29 ; 2011-07-11
优先权数据待填写
PCT申请数据待填写
PCT公布数据待填写
状态视撤
资助者大连化物所
英文摘要本发明提供了一种玻璃微流控芯片的质量检测方法,其特征在于:包括对玻璃微流控芯片通道的横截面轮廓测定、表面光洁度测定、表面电荷分布测定和化学性质确定。本发明提供了一种玻璃微流控芯片的质量检测方法的优点在于:首次全面、客观、准确的对玻璃微流控芯片的产品质量进行了监控,从而避免了以往在玻璃微流控芯片的生产使用过程中,由于产品评价标准的缺乏所造成的混乱局面;对出自不同厂家的玻璃微流控芯片进行产品质量检测的理想方法并,可成为行业标准。; 带填写
语种中文
文献类型专利
条目标识符http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/109233
专题中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王辉,戴忠鹏,王利,等. 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法, 一种玻璃微流控芯片的质量检测方法. CN200310119466.5[P]. 2005-06-29.
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