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学科主题物理化学
一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统
姜雷; 秦建华; 周小棉; 林炳承
申请受理号CN02256483.7
专利授权号CN02256483.7
申请日期2002-10-08
2003-09-10
代理机构张晨
专利权人中国科学院大连化学物理研究所
专利类别实用新型
关键词物理化学
专利证书号带填写
是否PCT专利
授予国别中国
部门归属大连化物所
产权排名1
一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统; 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统
公开日期2003-09-10 ; 2011-07-11
优先权数据待填写
PCT申请数据待填写
PCT公布数据待填写
状态终止
资助者大连化物所
英文摘要一种多通道芯片安培检测仪,其特征在于:该检测仪由系统控制数据采集部分,高压部分,多通道安培检测部分构成;其中系统控制数据采集部分的核心为一单片机CPU;高压部分由多个并列的高压模块EMCO及与高压模块EMCO相连的高压继电器组成;多通道安培检测部分为多个并列的恒电位电流—电压变换器;所述单片机CPU通过并行的多路D/A输出分别接高压部分的高压模块EMCO,通过另外多路D/A输出作为多通道安培检测部分的恒电位,通过多路A/D接电流—电压变换器的输出;所述高压继电器控制多通道检测芯片上检测通道两端的电极,恒电位施加于检测池内工作电极和参比电极上,工作电极接电流—电压变换器的输入。本实用新型可以与芯片实验室更好地相匹配。; 带填写
语种中文
文献类型专利
条目标识符http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/109769
专题中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
姜雷,秦建华,周小棉,等. 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统, 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统, 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统, 一种多通道芯片安培检测仪及检测系统. CN02256483.7[P]. 2003-09-10.
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