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DICP OpenIR  > 中国科学院大连化学物理研究所  > 专利
学科主题: 物理化学
专利名称: 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪;  无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
发明人: 关亚风 ;  邱长春 ;  唐学渊 ;  韩同生
申请受理号: CN85102703
专利授权号: CN85102703
申请日期: 1985-04-01
授权日期: 1986-09-24
代理机构: 汪惠民
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
关键词: 物理化学
专利证书号: 带填写
是否PCT专利: 
授予国别: 中国
部门归属: 大连化物所
产权排名: 1
专利名称: 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪;  无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
公开日期: 1986-09-24 ;  2011-07-11
优先权数据: 待填写
PCT申请数据: 待填写
PCT公布数据: 待填写
状态: 视撤
资助者: 待填写
摘要: 荧光灯气体杂质检测仪用于检测放电管、特别是荧光灯的气体杂质含量.检测仪设置了检测指示部分,温度补偿电路和杂质浓度显示器,能自动显示灯管杂质浓度与击穿放电阈值.检测器灵敏度高,检测杂质浓度范围是P杂/P总10-5~2×10-2,适用温度和压强范围宽(15~35℃和16~3.5乇),所发明的检测仪既可用于检测单只荧光灯管,也可以利用本仪器寻找生产线的故障和生产的在线检测.
英文摘要: 带填写
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/111123
Appears in Collections:中国科学院大连化学物理研究所_专利

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关亚风,邱长春,唐学渊,等. 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪, 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪. CN85102703. 1986.
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