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学科主题物理化学
无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
关亚风; 邱长春; 唐学渊; 韩同生
申请受理号CN85102703
专利授权号CN85102703
申请日期1985-04-01
1986-09-24
代理机构汪惠民
专利权人中国科学院大连化学物理研究所
专利类别发明
关键词物理化学
专利证书号带填写
是否PCT专利
授予国别中国
部门归属大连化物所
产权排名1
无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪; 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
公开日期1986-09-24 ; 2011-07-11
优先权数据待填写
PCT申请数据待填写
PCT公布数据待填写
状态视撤
资助者待填写
英文摘要荧光灯气体杂质检测仪用于检测放电管、特别是荧光灯的气体杂质含量.检测仪设置了检测指示部分,温度补偿电路和杂质浓度显示器,能自动显示灯管杂质浓度与击穿放电阈值.检测器灵敏度高,检测杂质浓度范围是P杂/P总10-5~2×10-2,适用温度和压强范围宽(15~35℃和16~3.5乇),所发明的检测仪既可用于检测单只荧光灯管,也可以利用本仪器寻找生产线的故障和生产的在线检测.; 带填写
语种中文
文献类型专利
条目标识符http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/111123
专题中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
关亚风,邱长春,唐学渊,等. 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪, 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪, 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪, 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪. CN85102703[P]. 1986-09-24.
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