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专利名称: 热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪;  热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪
发明人: 李杨 ;  李海洋 ;  赵琨 ;  仓怀文 ;  陈文东
申请受理号: CN201210520501.3
专利授权号: CN201210520501.3
申请日期: 2012-12-06
授权日期: 2014
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
部门归属: 大连化物所
专利名称: 热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪;  热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪
公开日期: 2014-06-11
状态: 实审
摘要: 本发明设计了一种热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪,包括膜进样装置、膜加热组件、电离源、电离反应区、离子迁移区、屏蔽电极区、离子检测区。采用的膜加热技术手段包括连续加热、间歇加热、瞬间加热三种方式,连续加热和间歇加热采用加热丝加热方式,瞬间加热采用高温加热灯实现。样品以分子的形式透过分别通过连续加热、间歇加热、瞬间加热三种方式加热的半透膜后,可有效提高膜进样装置对样品的透过率和透过速度,从而提高仪器的检测灵敏度。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/120488
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李杨,李海洋,赵琨,等. 热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪, 热解析膜进样高场非对称波形离子迁移谱仪. CN201210520501.3. 2014.
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