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专利名称: 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法;  基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法
发明人: 唐书凯 ;  多丽萍 ;  李留成 ;  于海军 ;  金玉奇 ;  桑凤亭
申请受理号: CN201210295371.8
专利授权号: CN201210295371.8
申请日期: 2012-08-17
授权日期: 2014
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
部门归属: 大连化物所
专利名称: 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法;  基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法
公开日期: 2014-02-19
状态: 实审
摘要: 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。本发明属于温度测量技术领域。本发明的目的是为了解决HF化学激光器超音速流场的温度测量问题,而提出的一种基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法。该方法用近红外光谱仪对HF第一泛频发射光谱信号进行测量,然后用HF第一泛频发射光谱的振-转强度分布公式对所得数据进行数值拟合,从而计算出测量体系的温度。该方法可应用于HF化学激光流场的不同位置(喷管出口、光腔以及光腔下游)和不同阶段(无激光输出和有激光输出)的温度分布测试,并可以推广到产生高振动态HF(V≥2)的其他体系。该方法具有简单、精度高、稳定性好和不干扰测试本体的特点。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/120663
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唐书凯,多丽萍,李留成,等. 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法, 基于HF第一泛频发射光谱的温度测量方法. CN201210295371.8. 2014.
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