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专利名称: 一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪;  一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪
发明人: 唐紫超 ;   谢华 ;   刘志凌 ;   秦正波 ;   张世宇
申请受理号: CN201310470673.9
专利授权号: CN201310470673.9
申请日期: 2013-10-09
授权日期: 2014
代理机构: 张晨
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
部门归属: 大连化物所
专利名称: 一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪;  一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪
公开日期: 2014-02-05
状态: 实审
摘要: 本发明涉及一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪,用于检测原子或分子团簇。系统结构包括激光溅射离子源、飞行时间质谱和负离子光电子速度成像系统。利用激光溅射离子源可以产生质量范围较宽的团簇;利用飞行时间质谱对产生的团簇离子进行快速、实时、原位的检测,并且能有效的考察团簇离子形成和分布的规律;利用负离子光电子速度成像系统能够得到中性物种的电子亲和势和负离子的垂直脱附能等信息。本发明与现有技术相比的优点在于:负离子光电子速度成像系统脱附区质谱分辨率高,能谱分辨率高,可以用于各种原子或分子团簇的检测。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/120699
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唐紫超, 谢华, 刘志凌,等. 一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪, 一种新型双反射式飞行时间质谱光电子速度成像仪. CN201310470673.9. 2014.
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