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专利名称: 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置;  带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置
发明人: 刘金波 ;  郭敬为 ;  孟庆琨 ;  金玉奇
申请受理号: CN201210224944.8
专利授权号: CN201210224944.8
申请日期: 2012-06-29
授权日期: 2014
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
部门归属: 大连化物所
专利名称: 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置;  带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置
公开日期: 2014-01-15
状态: 实审
摘要: 本发明是一种针对带电粒子束发生和应用领域真空设备中带电粒子束(团)的三维空间结构成像探测方法。该方法采用微通道板(MCP)和荧光屏组成成像探测单元,通过步进电机控制成像探测单元在带电粒子束的飞行路线上前后移动,通过记录一定时间内到达成像探测器前表面的带电粒子数量及其二维分布情况,实现对带电粒子束截面的成像探测。通过在MCP上加直流脉冲电压,可以得到带电粒子束的时间切片成像,获得短时间(最短可至10ns级)内的带电粒子变化情况;通过对切片图像的还原重构,可以获得带电粒子束(团)的三维空间结构。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/120756
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刘金波,郭敬为,孟庆琨,等. 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置, 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置. CN201210224944.8. 2014.
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