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学科主题: 物理化学
专利名称: 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法
作者: 孙公权1;  夏章讯1;  王素力1;  姜鲁华1
申请受理号: CN201310691219.6
专利授权号: CN201310691219.6
申请日期: 2013-12-15
授权日期: 2015-11-01
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
授权日期: 2015-11-01
专利名称: 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法;  一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法
公开日期: 2015-06-17
摘要: 一种测试装置,包括二块相向设置的板状极板、于二块极板间设有二张Nafion膜,于极板和Nafion膜间设有碳纸或碳布;二块极板通过导线分别与电化学工作站或电阻率测试仪相连。本发明弥补了现有技术的空白,实现了电极及其它电子导体中电子导电性与离子导电性的有效地分离,测试方法准确、高效、适用范围广,测试材料包括碳材料、金属材料、半导体材料以及均相、多孔等多种电子导体。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/144784
Appears in Collections:中国科学院大连化学物理研究所_专利

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作者单位: 1.中国科学院大连化学物理研究所

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孙公权,夏章讯,王素力,等. 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法, 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法, 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法, 一种测试装置及电子导体中离子电导率的测试方法. CN201310691219.6. 2015.
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