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学科主题: 物理化学
专利名称: 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法
作者: 李留成1;  多丽萍1;  金玉奇1;  唐书凯1;  李国富1;  王元虎1;  于海军1;  汪健1;  王增强1;  曹靖1
申请受理号: CN201310687358.1
专利授权号: CN201310687358.1
申请日期: 2013-12-13
授权日期: 2015-11-01
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授予国别: CN
授权日期: 2015-11-01
专利名称: 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法;  一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法
公开日期: 2015-06-17
摘要: 本发明涉及一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法,它基于自发辐射荧光光谱技术,是一种利用直线作图法同时测量HF分子转动温度和振动能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于HF化学激光测试诊断技术领域,可以同时测量转动温度和振动粒子数分布,只需要将HF基频自发辐射荧光光谱各个振转谱带的P支谱线强度进行简单的处理之后作图即可,具有简单方便、直观准确、非侵入性等特点。利用本发明,可以实现HF化学激光器中转动温度和振动激发态各个能级粒子数分布的同时快速测量。
语种: 中文
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/144814
Appears in Collections:中国科学院大连化学物理研究所_专利

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作者单位: 1.中国科学院大连化学物理研究所

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李留成,多丽萍,金玉奇,等. 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法, 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法, 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法, 一种同时测量HF转动温度和振动能级粒子数分布的方法. CN201310687358.1. 2015.
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