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Subject Area物理化学
一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法
李留成; 多丽萍; 金玉奇; 唐书凯; 李国富; 王元虎; 于海军; 汪健; 王增强; 曹靖
Application NumberCN201310684078.5
Patent NumberCN201310684078.5
Application Date2013-12-13
2015-11-01
Rights Holder中国科学院大连化学物理研究所
Subtype发明
PCT Attributes
Copyright Date2015-11-01
CountryCN
一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法; 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法
Date Available2015-06-17
Abstract本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术,它基于自发辐射荧光光谱技术,是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域,是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的,本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可,具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明,可以实现HF化学激光器中高振动激发态各个能级粒子数分布的快速测量。
Language中文
Document Type专利
Identifierhttp://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/144911
Collection中国科学院大连化学物理研究所
Affiliation中国科学院大连化学物理研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
李留成,多丽萍,金玉奇,等. 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法, 一种利用低分辨率近红外荧光光谱测量HF高振动态粒子数分布的方法. CN201310684078.5[P]. 2015-11-01.
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