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学科主题: 物理化学
专利名称: 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
作者: 唐紫超1;  史磊1;  吴小虎1;  王兴龙1;  任文峰1;  李刚1;  张世宇1
申请受理号: CN201310123964.0
专利授权号: CN201310123964.0
申请日期: 2013-04-10
授权日期: 2015-11-01
专利权人: 中国科学院大连化学物理研究所
专利类别: 发明
是否PCT专利: 
授权日期: 2015-11-01
专利名称: 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置;  一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
公开日期: 2014-10-15
摘要: 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置,该装置包括进样口,电离室,离子源和原位热解装置,质量分析器,接收器,数据系统,供电系统及真空系统;进样口直接引入离子源和原位热解装置中,离子源和原位热解装置在电离室中,电离室紧靠质量分析器;接收器在质量分析器中,通过数据线与数据系统相连,在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体,质谱分辨率可达到5000,具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。
内容类型: 专利
URI标识: http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/145366
Appears in Collections:中国科学院大连化学物理研究所_专利

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作者单位: 1.中国科学院大连化学物理研究所

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唐紫超,史磊,吴小虎,等. 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置. CN201310123964.0. 2015.
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