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Subject Area物理化学
一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
唐紫超; 史磊; 吴小虎; 王兴龙; 任文峰; 李刚; 张世宇
Application NumberCN201310123964.0
Patent NumberCN201310123964.0
Application Date2013-04-10
2015-11-01
Rights Holder中国科学院大连化学物理研究所
Subtype发明
PCT Attributes
Copyright Date2015-11-01
一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置; 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置
Date Available2014-10-15
Abstract一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置,该装置包括进样口,电离室,离子源和原位热解装置,质量分析器,接收器,数据系统,供电系统及真空系统;进样口直接引入离子源和原位热解装置中,离子源和原位热解装置在电离室中,电离室紧靠质量分析器;接收器在质量分析器中,通过数据线与数据系统相连,在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体,质谱分辨率可达到5000,具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气体的分析检测。
Document Type专利
Identifierhttp://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/145366
Collection中国科学院大连化学物理研究所
Affiliation中国科学院大连化学物理研究所
Recommended Citation
GB/T 7714
唐紫超,史磊,吴小虎,等. 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置, 一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置. CN201310123964.0[P]. 2015-11-01.
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